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探测金属材料或部件内部的裂纹或缺陷。常用的探伤方法有:X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤等方法。物理探伤就是不产生化学变化的情况下进行无损探伤。
无损检测是在不影响或不损害被检测对象使用性能的前提下,采用射线、超声、红外、电磁等原理技术仪器对材料、零件、设备进行缺陷、化学、物理参数的检测技术,无损检测是工业发展必不可少的有效工具。
NDT 无损探伤(Non-destructive testing),就是利用声、光、磁和电等特性,在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下,检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性,给出缺陷的大小、位置、性质和数量等信息,进而判定被检对象所处技术状态(如合格与否、剩余寿命等)的所有技术手段的总称。
超声检测是指利用超声波对金属构件内部缺陷进行检查的一种无损探伤方法。用发射探头向构件表面通过耦合剂发射超声波,超声波在构件内部传播时遇到不同界面将有不同的反射信号(回波)。利用不同反射信号传递到探头的时间差,可以检查到构件内部的缺陷。

渗透检测(penetrant testing,缩写符号为PT),又称渗透探伤,是一种以毛细作用原理为基础的检查表面开口缺陷的无损检测方法。

无损检测项目
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漏磁检测方法的主要检测原理是:将工件磁化(接近饱和),使其具有一定的磁通密度,以便在不连续处产生漏磁场,磁场传感器将输出信号送到运转放大器中。由于采用磁饱和状态,工件内具有相当高的磁场强度和磁场密度,磁力线不受限制,因而工件表面有较大的磁漏通,有利于现场检测。
磁敏感传感器沿被磁化的铁磁性材料表面扫查,拾取缺陷漏磁场,形成缺陷电信号,达到发现缺陷位置以及参数的目的。
漏磁无损检测技术由于检测速度快、可靠性高且对工件表面清洁度不高等特点在金属材料的检测和相关产品的评估中得到广泛应用。与磁粉检测探伤不同,漏磁检测中信号不用磁粉显示,对环境无污染:由于采用各种敏感元件(如霍尔元件和线圈方式),检测结果直接以电信号输出,容易与计算机连接实现数字处理,因此其检测结果可存储和再现,便于检测信号的分析以及检测结果的趋势分析。
射线检验时对薄板要求更高,ISO标准按A , B 两种像质等级和三种透照布置——单壁单影、双壁双影和双壁单影分别规定了透照不同厚度要求达到的像质指数。对双壁双影和双壁单影法, 又按像质计放置位置——射线源侧或胶片侧分别规定了像质要求。
ISO标准确定像质要求, 单壁单影法是按单壁厚度,而双壁双影和双壁单影法是按双壁厚度(国标均按单壁厚度) , 这与确定曝光条件所依据的厚度达到统一。但实际上, 就被检焊缝厚度来说, 双壁透照法所得IQI灵敏度总是单壁透照法的一半。ISO标准对192 Ir源的使用, 在某些厚度范围内对像质要求作了放宽处理, 如A 级: T = 10~ 24mm ,可低2 个指数; T > 24~ 30mm , 可低1个指数;B级: T = 12~ 40mm , 可低1个指数(以上均指单壁单影法)。这是因为源透照厚度越小, 像质损失越大。标准放宽要求, 是承认某像质水平降低的事实。之前国内线型灵敏度像质计采用16组细丝,而ISO标准中采用19组细丝计,增加了三组细丝以加强薄板检验的透照要求,厚度< 2mm 时, ISO标准有像质指数17~19 (相应丝径0.080mm,0.063mm 和0.050mm ) 的要求, 国标中需补充相应的像质计形式
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