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磁粉检测作业规程
1 概述
本规程是为了准确地检出铁磁性材料的表面和近表面的裂纹及其它缺陷,以及对缺陷的大小、性质进行等级评定而编制。
2 范围
本规程包括锻件、铸件磁粉检测,焊缝坡口的磁粉检验、焊缝及可磁化的金属热影响区的检验。
3 人员
从事磁粉检测的人员必须持有国家有关部门或者与之相等的国际**检测机构颁发的、并与其工作相适应的资格证书。
4 设备及材料
4.1 探伤设备应能对试件完成连续磁化,施加磁粉,提供观察条件以及退磁等四道工序。如无必要,可不带退磁装置。
4.2 探伤设备能适应试件的形状、尺寸、材质、表面状态以满足对缺陷检测的要求,能有效而安全地进行探伤。
4.3 磁粉探伤仪至少一年要检定一次,探伤仪修理后也要进行检定。当使用磁轭间距200MM时,每个交流电磁轭至少应有44N提升力。直流电磁轭至少应有177N提升力。
4.4 磁悬液喷罐,应能呈雾状均匀地将磁悬液喷覆于被检件表面,压力不宜过大。
4.5 试件表面应具有检测人员确定的合适灯光,一般灯光的强度不得低于500LX。
4.6 磁粉及磁悬液
4.6.1 磁粉和磁悬液应具有高渗透性能,易于磁化和发现缺陷,白色反差增强剂具有较强的对比度。我公司使用的磁悬液(黑色)、白色反差增强剂均采用喷罐。
4.7 标准试片与磁场指示器
4.7.1 A型标准试片
4.7.1.1 A型标准试片用来检查探伤装置、磁粉、磁悬液的综合性能,以及连续法中试件表面有效磁场的强度和方向,有效探伤范围,探伤操作是否正确等。
4.7.1.2 型标准试片分高,中,低三种灵敏度,其型号的分数越小,则要求能显示磁痕的有效磁场强度越高。此灵敏度不代表实际能检测缺陷的大小。
4.7.1.3 A型标准试片中有圆形和十字人工槽,其几何尺寸如图3所示。A型标准试片型号、相对槽深与材质如表1所示。
表1 A型标准试片
序号 | 型号 | 相对槽深(ΜM) * | 灵敏度 | 材质 |
1 | A-15/100 | 15/100±4 | 高 | **高纯低碳纯铁 |
2 | A-30/100 | 30/100±8 | 中 | (C<0.03% H。<80MÀ,经退火处理) |
3 | A-60/100 | 60/100±15 | 低 |
L 试片相对槽深其表达式中分子为人工槽深度,分母为试片厚度。
4.7.1.4 应根据对探伤灵敏度的要求,选用相应的A型标准试片。当需要更强的有效磁场时,可用标准试片型号的倍数来表示。例如:”A-30/100X2表示进行探伤的磁化电流应为A-30/100型试片上获得磁痕的磁化电流值的2倍。
4.7.1.5 使用A型标准试片时,应将没有人工槽的面置于外侧,并用适当的粘胶纸将试片紧贴在探伤面上,注意粘胶纸不能盖住人工槽对应的部位。
图3 A型标准试片
4.7.1.6 对A型标准试片施加磁粉时应采用连续法。
4.7.1.7 A型标准试片的形状,尺寸发生变化后不得继续使用。
4.7.2 磁场指示器
4.7.2.1 图4所示的磁场指示器可方便地粗略测定出零件的磁化程度及其方向,但不能作为磁场强度及其分布的定量指示器,只能反映被检件表面或局部的磁场强度和方向。
图4 磁粉磁场指示器
4.7.2.2 必须在被检工件产生足够的磁场,以使指示器能清晰地显示出检验图形。
4.7.2.3 在使用磁场指示器时,应在产生磁场的同时施加磁粉。当指示器铜片表面呈现交叉、清晰的磁痕时,则表明此时具有适当的磁力或磁场强度,如果没有形成清晰的磁痕或没有在所要求的方向形成磁痕,则应改变或调整磁化方法。
5 检测程序
5.1 检验时机和环境温度
5.1.1 检验的时机
5.1.1.1 通常,焊缝的磁粉检测应安排在焊接工序完成之后进行.对于有延迟裂纹倾向的材料,磁粉检测应安排在焊后24小时进行;除另有要求外,对于紧固件和锻件的磁粉检测应安排在较终热处理之后进行。
5.1.1.2 通常应在加工及处理工序后进行探伤,因表面处理工艺会给缺陷检测带来困难时,则可在表面处理前进行探伤。
5.1.1.2 业主要求变更检验时间时,应按业主要求执行。
5.1.2 环境温度
5.1.2.1 当磁粉探伤时的环境温度低于+5℃时,探伤人员应在磁粉探伤前测试钢板的表面温度并做好记录。如果采用湿式磁粉探伤,探伤工件的表面温度应不**过55℃;在环境温度低于零下10度时,不能进行磁粉探伤。
5.2 表面清理
5.2.1 探伤范围应向母材方向扩大30MM,清理的范围必须大于探伤范围。如果表面形状影响到探测结果的判读,相应部位应打磨平整。
5.2.2 试件上的油脂或其它附着物必须把它们清除掉,并清理干净。
5.2.3 处理后的试件表面,可喷涂反差增强剂,反差增强剂涂层厚度不得大于50ΜM(均匀喷涂一层的厚度约为20ΜM,同一部位不得喷涂三层)。喷涂要由探伤人员(MTⅡ级)操作。
5.3 检测操作
5.3.1 凡需磁粉检验的部位,必须在完工打磨后,经外观检验合格,才能进行探伤操作。探伤操作包括:磁化,施加磁粉,磁痕的观察,记录,退磁等各项操作。
5.3.2 探伤的方法
磁粉探伤方法采用湿式连续法。
5.3.3 磁化
5.3.3.1 磁场方向应尽量与预计的缺陷方向垂直;
2 磁场方向应尽量与探伤表面平行;
3 应减少逆磁场;
4 在不允许烧损探伤面时,应选择不直接对试件通电的磁化方法。
5 各区域至少应分别进行两次检验。*二次检验时,磁力线应与**次检验所用的方向尽量垂直。
5.3.3.2 通电时间有关注意事项:使用连续法磁化时,通电时间的确定必须保证磁粉能在通电状态下施加完毕,一般为1-3S。为保证磁化效果应至少反复磁化二次,停施磁悬液至少1S后才可停止磁化。
5.3.3.3 采用电磁铁装置在较间距离为75-150MM时,用交流磁化提升力应大于44N,直流电磁轭应大于177N提升力,用磁轭检验的有效探伤范围在磁较两侧各为磁较间距的1/4,磁轭每次移动的覆盖区应不少于25MM。
5.3.3.4 提升力应在工作前、工作后分别测定,并做好记录。
5.3.4 施加磁粉
5.3.4.1 在连续法探伤时,应在磁化过程中完成施加磁粉。此时必须注意磁化结束后形成的磁痕不要被流动着的分散剂所破坏。
5.3.4.2 采用湿法时,应确认整个探伤面能被磁悬液良好地润湿后再把磁悬液喷洒在探伤面上,注意不使探伤面上磁悬液的流速过快。
5.3.4.3 我公司使用的磁悬液(黑色)、白色反差增强剂均采用喷罐。
5.3.5 磁痕的观察
5.3.5.1 磁痕的观察必须在磁痕形成后立即进行。
5.3.5.2 必须在能清楚识别磁痕的自然光或灯光下进行观察。
5.3.5.3 正确区分可能出现的几种伪磁痕,必要时应重复检验。伪磁痕形成原因如下:
A) 磁写:采用剩磁法时,由于试件相互接触或接触了其它强磁性体时形成漏磁通,由此而形成较为模糊的磁痕;
B) 断面突变显示:因试件形状的差别,在试件磁回路截面积突变部位产生漏磁通,形成较为模糊的磁痕;
C) 电流显示:通有强电流的电线接触探伤面时,引起局部磁化,使该部位出现较粗而模糊的磁痕;
D) 电极显示:采用触头法时,因电极附近电流密度高引起漏磁通所形成的磁痕,这种磁痕大多数呈辐射状;
E) 磁较显示:采用磁轭法时,由磁较接触部位及其附近局部产生的高密度漏磁通而形成的磁痕;
F) 表面粗糙度显示:由细小的凹凸部分产生的漏磁通形成的磁痕和磁粉存留在凹处而产生的磁痕;
G) 材质边界显示:因磁导率不同的材质或金属组织的边界产生的漏磁通所形成的磁痕;
H) 沾污显示:因探伤面受擦或不均匀的磁粉施加中的斑痕等形成的磁痕。
5.3.5.4 缺陷磁痕应作好记录。需要时,也可用透明清漆将其固定在探伤面上。
5.3.6 退磁
5.3.6.1 在下列情况下试件必须进行退磁:
A) 当连续进行探伤磁化时,上一次磁化将会给下一次磁化带来不良影响;
B) 试件的剩磁会对以后的机械加工产生不良影响;
C) 试件的剩磁会对测试装置等产生不良影响;
D) 用于摩擦部位或接近于摩擦部位的试件,因磁粉吸附在摩擦部位会增大摩擦损耗;
E) 其它必要的场合。
5.3.6.2 退磁磁场强度必须从大于磁化时的电流值或试件的饱和磁场强度开始,使施加的磁场方向交替变换,并逐渐减小到零。退磁后有时需对试件进行剩磁检查。
5.3.7 实施探伤时的注意事项:
5.3.7.1 当整个探伤面不能用一次连续的探伤操作完成时,应规定每一次探伤的有效范围,根据需要进行多次探伤操作,此时相邻探伤范围的边缘部分必须有一定的重叠。
5.3.7.2 在检测各个方向上的缺陷时,需对试件同一位置至少施加两个以上不同方向的磁场,并使用连续法进行探伤。
5.3.7.3 用剩磁法探伤时,在磁化后,观察磁痕前,探伤面不得与其它试件或强磁体接触。
5.3.7.4 对已经发现的磁痕若难以判断其真伪时,应进行退磁;必要时应变更表面状态再进行复验,以确定其真伪。是否伪磁痕可按下列方法鉴定:
A) 若是磁写,经退磁后复验,磁痕即消失。
B) 因强电流致使磁粉聚集而产生的伪磁痕,可减小电流或采用剩磁法复验,磁痕即会消失。
C) 因探伤面粗糙而形成的磁痕,可将探伤面磨光后再进行复验,磁痕便会消失。
D) 对出现在磁导率突变部位的磁痕,可由宏观检验,放大镜检验等磁粉探伤以外的检验方法来辨认。
所有被认为是伪磁痕的显示应在被检工件表面清理后作进一步检测,如复探仍出现磁痕显示,则表示该显示为缺陷磁痕。
5.4 探伤范围及验收标准
所有焊缝的检验和评估都要按照国内或国际标准或按业主要求。
5.5 检测记录及报告
5.6 从事磁粉检测的人员应在《磁粉检测原始记录》填写检验结果,项目任务完成后根据原始记录填写《磁粉检测报告》。
5.7 检测工作完成后,检测资料整理完毕后交办公室保管10年。
5.8 从事磁粉检测的人员需注意遵守有关安全操作规程。
6 参考标准
6.1 GB/T15822-2005《无损检测 磁粉检测》。