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广分检测技术（苏州）有限公司
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射线检测 | 利用射线（X射线、γ射线和中子射线）在介质中传播时的衰减特性，当将强度均匀的射线从被检件的一面注入其中时， 由于缺陷与被检件基体材料对射线的衰减特性不同，透过被检件后的射线强度将会不均匀，用胶片照相、 荧光屏直接观测等方法在其对面检测透过被检件后的射线强度，即可判断被检件表面或内部是否存在缺陷（异质点）。 |
磁粉检测 | 由于缺陷与基体材料的磁特性（磁阻）不同穿过基体的磁力线在缺陷处将产生弯曲并可能逸出基体表面， 形成漏磁场。若缺陷漏磁场的强度足以吸附磁性颗粒，则将在缺陷对应处形成尺寸比缺陷本身更大、 对比度也更高的磁痕，从而指示缺陷的存在。 |
渗透检测 | 利用毛细管现象和渗透液对缺陷内壁的浸润作用，使渗透液进入缺陷中， 将多余的渗透液出去后，残留缺陷内的渗透液能吸附显像剂从而形成对比度更高、 尺寸放大的缺陷显像，有利于人眼的观测。 |